Technologické centrum AV ČR a Český statistický úřad pořádají dne 21. 4. 2017 odborný seminář na téma Výzkum, vývoj a inovace ve statistikách a analýzách: Výzkumníci, patenty a bibliometrické mapování.
Letošní seminář Vás seznámí s výsledky mapování vědy, technologií a inovací v ČR roku 2016, s nejnovějšími údaji z oblasti patentů a lidských zdrojů ve VaV a s novými možnostmi práce s bibliometrickými daty.
Cílem semináře je posílení spolupráce mezi organizacemi, které se zabývají sběrem a zpracováním dat v této oblasti, organizacemi, které s těmito daty pracují a připravují analýzy pro rozhodovací sféru, a také těmi, kteří tyto analýzy využívají k rozhodování a formulaci příslušných politik jak na úrovni národní, regionální, tak i na úrovni jednotlivých výzkumných institucí.
Seminář se koná v budově Technologického centra AV ČR, Ve Struhách 27, Praha 6. Registrace je nutná zde.
Zdroj: TC AV ČR
- Zdroj: TC AV ČR
- Zdroj: VědaVýzkum.cz
- Datum od: 21.4.2017
- Datum do: 21.4.2017