Vyhledat

iocb tech

hlavní partner portálu

Nezávislé informace o vědě a výzkumu

Technologické centrum AV ČR a Český statistický úřad pořádají dne 21. 4. 2017 odborný seminář na téma Výzkum, vývoj a inovace ve statistikách a analýzách: Výzkumníci, patenty a bibliometrické mapování.

Letošní seminář Vás seznámí s výsledky mapování vědy, technologií a inovací v ČR roku 2016, s nejnovějšími údaji z oblasti patentů a lidských zdrojů ve VaV a s novými možnostmi práce s bibliometrickými daty.

Cílem semináře je posílení spolupráce mezi organizacemi, které se zabývají sběrem a zpracováním dat v této oblasti, organizacemi, které s těmito daty pracují a připravují analýzy pro rozhodovací sféru, a také těmi, kteří tyto analýzy využívají k rozhodování a formulaci příslušných politik jak na úrovni národní, regionální, tak i na úrovni jednotlivých výzkumných institucí.

Seminář se koná v budově Technologického centra AV ČR, Ve Struhách 27, Praha 6. Registrace je nutná zde.

Program ke stažení.

 

Zdroj: TC AV ČR

  • Zdroj: TC AV ČR
  • Zdroj: VědaVýzkum.cz
  • Datum od: 21.4.2017
  • Datum do: 21.4.2017
Kategorie: Akce
 

Kalendář akcí